Наноматериалы для радиоэлектронных средств. — Часть 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»
Малышев К.В., Башков В.М., Мешков С.А.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
წელი:
2007
გამომცემლობა:
Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана
ენა:
russian
გვერდები:
42
ფაილი:
PDF, 1.25 MB
IPFS:
,
russian, 2007
Litres
გსურთ დაამატოთ წიგნის მაღაზია? დაგვიკავშირდით support@z-lib.do-ით
ფაილების კონვერტაცია
ძიების მეტი შედეგი
სხვა უპირატესობები 
